走査電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、走査型オージェ電子分光装置、電子線マイクロアナライザー、X線回折装置、X線光電子分光装置など最新鋭の表面分析装置により各種材料の表面、断面に存在する組成元素や超微量不純物及びこれらの元素の組織状態を知ることができます。

透過型電子顕微鏡

透過型電子顕微鏡【TEM】

電界放射型走査電子顕微鏡

電界放射型走査電子顕微鏡【FE-SEM】

電子線マイクロアナライザー

電子線マイクロアナライザー【FE-EPMA】

環境分析・環境調査に関する業務

材料の品質評価や研究開発の支援業務

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